Clasificación de marcas de EE. UU.
Plataformas de imagen electrónica en el campo de la inspección de materiales semiconductores, a saber, obleas y retículas semiconductoras 009-3120
半导体材料检测领域的电子成像平台，即用于半导体晶圆和掩模版
Chino
半导体材料检测领域的电子成像平台，即用于半导体晶圆和掩模版
Inglés
Electronic imaging platforms in the field of inspection of semiconductor materials, namely, semiconductor wafers and reticles
Español
Plataformas de imagen electrónica en el campo de la inspección de materiales semiconductores, a saber, obleas y retículas semiconductoras
- Term ID
- 009-3120
- Clase
- 09
- Tipo
- Productos
- Estado
- Vigente · añadida, sin modificar (A)
- Fecha de vigencia
- 2008-05-29
- Versión
- 09-2007