半导体材料检测领域的电子成像平台，即用于半导体晶圆和掩模版 009-3120
中文
半导体材料检测领域的电子成像平台，即用于半导体晶圆和掩模版
英文
Electronic imaging platforms in the field of inspection of semiconductor materials, namely, semiconductor wafers and reticles
西班牙文
Plataformas de imagen electrónica en el campo de la inspección de materiales semiconductores, a saber, obleas y retículas semiconductoras
- Term ID
- 009-3120
- 类号
- 09
- 类型
- 商品
- 状态
- 有效 · 已收录，未修改（A）
- 生效日
- 2008-05-29
- 版本
- 09-2007