Clasificación de marcas de EE. UU.
Aparato de inspección óptica para la inspección de materiales semiconductores, a saber, obleas semiconductoras, retículas y fotomáscaras 009-3122
用于检查半导体材料（即半导体晶圆、光罩和光掩模）的光学检查设备
Chino
用于检查半导体材料（即半导体晶圆、光罩和光掩模）的光学检查设备
Inglés
Optical inspection apparatus for inspection of semiconductor materials, namely, semiconductor wafers, reticles, and photomasks
Español
Aparato de inspección óptica para la inspección de materiales semiconductores, a saber, obleas semiconductoras, retículas y fotomáscaras
- Term ID
- 009-3122
- Clase
- 09
- Tipo
- Productos
- Estado
- Vigente · añadida, sin modificar (A)
- Fecha de vigencia
- 2008-05-29
- Versión
- 09-2007