用于检查半导体材料（即半导体晶圆、光罩和光掩模）的光学检查设备 009-3122
中文
用于检查半导体材料（即半导体晶圆、光罩和光掩模）的光学检查设备
英文
Optical inspection apparatus for inspection of semiconductor materials, namely, semiconductor wafers, reticles, and photomasks
西班牙文
Aparato de inspección óptica para la inspección de materiales semiconductores, a saber, obleas semiconductoras, retículas y fotomáscaras
- Term ID
- 009-3122
- 类号
- 09
- 类型
- 商品
- 状态
- 有效 · 已收录，未修改（A）
- 生效日
- 2008-05-29
- 版本
- 09-2007