Clasificación de marcas de EE. UU.
Sondas para probar circuitos integrados 009-770
用于测试集成电路的探针
Chino
用于测试集成电路的探针
Inglés
Probes for testing integrated circuits
Español
Sondas para probar circuitos integrados
- Term ID
- 009-770
- Clase
- 09
- Tipo
- Productos
- Estado
- Vigente · añadida, sin modificar (A)
- Fecha de vigencia
- 2001-06-01
- Versión
- 07-1997