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美国商标分类表

类号 09

用于测试集成电路的探针 009-770

中文用于测试集成电路的探针

英文 Probes for testing integrated circuits

西班牙文 Sondas para probar circuitos integrados

Term ID: 009-770
类号: 09
类型: 商品
状态: 有效 · 已收录，未修改（A）
生效日: 2001-06-01
版本: 07-1997

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