Clasificación de marcas de EE. UU.
Microscopios electrónicos de barrido (MEB) y sus partes estructurales 009-7779
扫描电子显微镜(SEM)及其结构部件
Chino
扫描电子显微镜(SEM)及其结构部件
Inglés
Scanning electron microscopes (SEM) and structural parts thereof
Español
Microscopios electrónicos de barrido (MEB) y sus partes estructurales
- Term ID
- 009-7779
- Clase
- 09
- Tipo
- Productos
- Estado
- Vigente · añadida, sin modificar (A)
- Fecha de vigencia
- 2026-04-16
- Versión
- 13-2026