L09-27745-集成电路测试探针组件
Detalles
|
类号 L09 |
|
项目编号 27745 |
|
项目名 集成电路测试探针组件 |
|
项目名(en) Test probe assemblies for integrated circuits |
|
项目名(es) Conjuntos de sondas de prueba para circuitos integrados |
|
SOU (AP) |